01 黑暗之主的盔甲：奇跡與疏忽的故事我們都知道達斯·維達那令人敬畏的形象，這位強大的存在被包裹在一套維持生命的盔甲中，這是在一場悲劇的決斗后，他變得比人類更像機器。然而，在這項技術奇跡的表面之下，隱藏著許多挑戰，包括行動限制、對原力閃電的脆弱性，以及曾經敏捷的阿納金·天行者因笨拙設計而受到的阻礙。

09-05

2024

晶圓檢測顯微鏡：可靠觀察細微高度差異

本文介紹了一種配備自動化和可重復的 DIC（微分干涉對比）成像的 6 英寸晶圓檢測顯微鏡，無論用戶的技能水平如何。制造集成電路（IC）芯片和半導體組件需要進行晶圓檢測，以驗證是否存在影響性能的缺陷。這種檢測通常使用光學顯微鏡進行質量控制、故障分析和研發。為了有效地可視化晶圓上結構之間的細微高度差異，可以使用 DIC 。

09-05

2024

X-MET8000系列用于快速測量質子交換膜（PEM）上的Pt和Ir載量

質子交換膜是未來可持續能源系統的關鍵技術。燃料電池中的質子交換膜能夠高效地將氫氣轉化為電能，且無有害氣體排放。質子交換膜燃料電池廣泛用于電解水制氫，質子交換膜在氫能產業中發揮著至關重要的作用。

07-19

2024

XRF分析儀的智能功能將讓您的鍍層質量控制更加高效

FT230 XRF鍍層分析儀專用于滿足鍍層行業的特殊需求。FT230通過整合全新的軟件界面、用戶體驗功能以及高端分析組件，可以更簡便地測試更多數量的樣品，從而使操作員有時間在測量XRF的同時，執行其他工作。FT230配備四種新的關鍵功能，可助力更快完成鍍層分析：

07-13

2024