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產(chǎn)品描述
Asylum ResearchCypher S 是一款可商業(yè)化的快速掃描AFM,而且Cypher 系列AFM 系列是少有的全功能快速掃描AFM,該系列AFM可兼容各種模式和配件。此外,該系列的優(yōu)勢還在于其更容易獲得高分辨率。在材料科學和生命科學研究領域, Cypher S 可以實現(xiàn)在空氣和液體環(huán)境下的對樣品進行高質(zhì)量的掃描和測量。Cypher S后續(xù)還可以通過升級硬件進行環(huán)境控制,甚至實現(xiàn)視頻速率掃描功能。
- 容易實現(xiàn)的原子力級高分辨成像
- 可實現(xiàn)快速掃描,獲得掃描圖像的結果以秒計,而非分鐘
- 操作的每一步都簡單、方便,效率高
- 實驗室占用空間小,研發(fā)能力提升潛力
- 專業(yè)的售后支持和服務
能夠獲得更高的分辨率
- Unmatched mechanical stability—noise floor half that of any other AFM
- Exceptionally low drift—higher resolution and straight lattice lines
- Low noise electronics—no artifacts from electronic noise sources
可實現(xiàn)快速掃描,獲得掃描圖像的結果以秒計,而非分鐘
- Scans 10-100× faster than typical AFMs
- Supports the fastest, smallest probes (3×9 µm spot size—optional)
- Fast scanning that goes beyond topography—also nanomechanics, CAFM, PFM
操作的每一步都簡單、方便,效率高
- ModeMaster™ automatically configures software for selected mode
- SpotOn™ makes the fully motorized laser and detector alignment one-click
- GetReal™ automatically calibrates the cantilever spring constant and sensitivity
- etStarted™ automatically sets optimal parameters for tapping mode imaging
- blueDrive™ makes tapping mode simpler, more stable, and more quantitative
實驗室占用空間小,研發(fā)能力提升潛力巨大
- Full suite of nanomechanical characterization modes available for measuring viscoelastic properties (storage/elastic modulus and loss modulus)
- Unmatched range of nanoelectrical and electromechanical characterization modes
- Upgradeable to the Cypher ES for environmental control accessories and to Cypher VRS for video-rate imaging
- Many standard operating modes and even more optional modes
*僅提供概要性產(chǎn)品信息,這些信息不得構成任何訂單或合同的一部分或視為與相關產(chǎn)品或服務有關的陳述,本公司保留更改任何產(chǎn)品信息或服務的規(guī)格、設計或供應條款的權利
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