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高分辨率X射線三維檢測顯微鏡來襲！
發布時間：2019-04-15
高分辨率X射線三維檢測系統是一種在檢測過程中保持樣品在檢測時不被損壞的一種檢測方式。是工業、材料、環境等領域中常見的檢測方法之一，適用于對樣品進行無損檢測、故障分析、過程控制等。
CT-COMPACT nano是一款緊湊的臺式高分辨率X射線三維檢測顯微鏡，采用獨有的探測器技術，滿足各種高應用需求。優化對比度，可以改變檢測器距離。對于高放大倍率，可以使用不同的平板探測器，水平定向的X射線束使CT掃描不受重力影響。
廣泛適用于石油、天然氣、汽車、電源、礦石、科學研究等領域。
CT-COMPACT nano
產品特點
◆對大/小樣品進行高分辨率三維X射線成像
◆顯微鏡設計使樣品距離X射線源有大的工作距離情況下具有高分辨率，這是進行原位成像惡化大樣品成像的先決條件
◆對同一個樣品進行多尺度范圍成像，跨越很寬的放大倍率
◆對低原子序數材料和生物樣品進行高襯度的相位增強成像
◆對樣品進行無損成像，僅需簡單甚至無需樣品制備
◆提供各種原位輔助裝置，對實際大小的樣品（從毫米到數厘米）進行亞微米成像
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