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Profiler 2射頻輝光放電光譜儀

輝光放電光譜儀

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產(chǎn)品咨詢:

產(chǎn)品描述

GD-Profiler 2是一款可進(jìn)行超快鍍層分析的理想工具,適合于導(dǎo)體(/)非導(dǎo)體復(fù)合鍍層的分析。可分析70多種元素,其中包括CHONCl。一次測(cè)試可輕松獲取鍍層元素深度分布、鍍層厚度、鍍層均一性及表面/界面等信息。

GD-Profiler 2可分析幾納米到200微米的深度,深度分辨率小于1納米。GD-Profiler 2采用了脈沖式射頻輝光源,可有效分析熱導(dǎo)性能差以及熱敏感的樣品。此外,還采用了多項(xiàng)專利技術(shù),如高動(dòng)態(tài)檢測(cè)器(HDD)可測(cè)試ppm-100%的濃度范圍,專利Polyscan多道掃描的光譜分辨率為18pm~25pm等。主要應(yīng)用領(lǐng)域包括鍍鋅鋼板、彩涂板、新型半導(dǎo)體材料、LED晶片、硬盤、有機(jī)鍍層、鋰電池、玻璃、陶瓷等等。

 

技術(shù)參數(shù)

1、射頻發(fā)生器-標(biāo)準(zhǔn)配置、復(fù)合D級(jí)標(biāo)準(zhǔn)、穩(wěn)定性高、濺射束斑更為平坦、等離子體穩(wěn)定時(shí)間更短,表面信息無任何失真。

2、脈沖工作模式既可以分析常規(guī)的涂/鍍層和薄膜,也可以很好地分析熱導(dǎo)性能差和熱易碎的涂/鍍層和薄膜。

3Polyscan多道(同時(shí))光譜儀可全譜覆蓋,光譜范圍從110nm-800nm,可測(cè)試遠(yuǎn)紫外元素CHONCl

4HORIBA的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器擁有更大的光通量,因而擁有光效率和靈敏度。

5、高動(dòng)態(tài)檢測(cè)器(HDD)可快速、高靈敏的檢測(cè)ppm含量的元素。動(dòng)態(tài)范圍為5×1010

6、寬大的樣品室方便各類樣品的加載。

7Quantum軟件可以靈活方便的輸出各種格式的檢測(cè)報(bào)告。

8HORIBA單色儀(選配)可極大地提高儀器靈活性,可實(shí)現(xiàn)固定通道外任意一個(gè)元素的同步測(cè)試,稱為n+1

9、適用于ISO1470716962標(biāo)準(zhǔn)。

 

*僅提供概要性產(chǎn)品信息,這些信息不得構(gòu)成任何訂單或合同的一部分或視為與相關(guān)產(chǎn)品或服務(wù)有關(guān)的陳述,本公司保留更改任何產(chǎn)品信息或服務(wù)的規(guī)格、設(shè)計(jì)或供應(yīng)條款的權(quán)利

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