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FT230臺式XRF分析儀

熒光鍍層測厚儀

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產品描述

產品亮點:

  • FT230的每一個部分都是為了大幅減少分析時間而設計的。
  • 自動聚焦減少樣品裝載時間
  • Find My Part™ 自動進行智能識別以設置完整的測量程序
  • 屏幕大部分區域用來顯示樣品視圖,提供了更優的可視度
  • 自檢診斷程序確保了儀器的狀況和穩定性
  • 與其他軟件的無縫集成使其能夠輕松導出數據
  • 由于采用了新的用戶界面,非專業人員也能直觀、方便地使用。
  • 功能強大,可同時測量四層鍍層也可分析基質
  • 經久耐用,在充滿考驗的生產或實驗室環境中使用壽命長
  • 符合ASTM B568和DIN ISO 3497標準
  • 幫助您滿足ENIG(IPC-4552B)、ENEPIG(IPC-4556)、浸沒錫(IPC-4554)和浸沒銀(IPC-4553A)的規格要求

 

  FT230 臺式 XRF 分析儀
元素范圍 鋁 (13) - 鈾 (92)
探測器 硅漂移探測器 (SDD)
樣品臺設計 開槽和閉合
XY 樣品臺設計 電動或固定
XY 樣品臺行程 250 x 200 mm
電動Z軸行程 205 mm
最大樣品尺寸 500 x 400 x 150 mm
直準器數量 4
焦點激光 包含在標準配置內
自動對焦 可選
廣角攝像機 可選
距離無關測量 可選
Find My Part™ 智能識別功能 可選
鍍層測量 ??

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