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微焦斑XRF光譜儀X-Strata 系列

熒光鍍層測厚儀

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產品描述

基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業內廣泛接受認可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
    
X-Strata920 可被配置為三個不同的樣品臺配置,以應對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個可移動托盤,可快速被配置,以搭配小或大零件(6英寸)。電動X-Y臺可自動分析多個樣品或一個樣品的多個位置。
    
• 正比計數器系統
• 元素范圍:鈦- 鈾
• 樣品艙設計:開槽
• XY 軸樣品臺選擇: 固定臺、加深臺、自動臺
• 樣品尺寸:270 x 500 x 150毫米
• 數量準直器:6
• 濾波器:3
• 小的準直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)
• SmartLink 軟件

    
PCB / PWB 表面處理
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556和IPC 4552A測量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產品幫助您在嚴控的范圍內持續運營,確保高質量并避免昂貴的返工。
    
電力和電子組件的電鍍
零件必須在規格范圍內被電鍍,以達到預期的電力、機械及環境性能。開槽的X-Strata系列產品,可以測量小的試片或連續帶狀樣品,從而達到引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。
    
IC 載板
半導體器件越來越小巧而復雜,需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶所需應用提供高準確性分析,及重復性好的數據。
    
服務電子制造過程(EMS、ECS)
結合采購和本地制造的組件及涉及產品的多個測試點,實現從進廠檢查到生產線流程控制,再到質量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產品幫助您在全生產鏈分析組件、焊料和產品,確保每個階段的質量。
    
光伏產品
對可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性,從而確保高效率。
    
受限材料和高可靠性篩查
與復雜的全球供應鏈合作,驗證和檢驗從供應商處收到的材料非常重要。使用日立分析儀器的XRF技術,根據IEC 62321方法檢驗進貨是否符合RoHS和ELV等法規要求,確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和關鍵任務領域。
    
*僅提供概要性產品信息,這些信息不得構成任何訂單或合同的一部分或視為與相關產品或服務有關的陳述,本公司保留更改任何產品信息或服務的規格、設計或供應條款的權利

 

 

 

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