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FT160鍍層測厚儀
熒光鍍層測厚儀
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產(chǎn)品報(bào)價(jià)
產(chǎn)品描述
日立微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
應(yīng)用
PCB / PWB 表面處理
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴(yán)控的范圍內(nèi)持續(xù)運(yùn)營,確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。
電力和電子組件的電鍍
零件必須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍,以達(dá)到預(yù)期的電力、機(jī)械及環(huán)境性能。 開槽的X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品 ,可以測量小的試片或連續(xù)帶狀樣品,從而達(dá)到 引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預(yù)鍍層厚度的控制。
IC 載板
半導(dǎo)體器件越來越小巧而復(fù)雜,需要分析設(shè)備測量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計(jì)為可為客戶所需應(yīng)用提供高準(zhǔn)確性分析,及重復(fù)性好的數(shù)據(jù)。
服務(wù)電子制造過程 (EMS、ECS)
結(jié)合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個(gè)測試點(diǎn),實(shí)現(xiàn)從進(jìn)廠檢查到生產(chǎn)線流程控制,再到最終質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料,確保每個(gè)階段的質(zhì)量。
光伏產(chǎn)品
對可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準(zhǔn)確度和連貫性,從而確保高效率。
受限材料和高可靠性篩查
與復(fù)雜的應(yīng)鏈合作,驗(yàn)證和檢驗(yàn)從供應(yīng)商處收到的材料。使用日立分析儀器的XRF技術(shù),根據(jù)IEC 62321方法檢驗(yàn)進(jìn)貨是否符合RoHS和ELV等法規(guī)要求,確保高可靠性涂鍍層被應(yīng)用于航空和軍事領(lǐng)域。
FT160 臺式 XRF 鍍層測厚儀,旨在測量當(dāng)今 PCB、半導(dǎo)體和微連接器上的微小部件。 準(zhǔn)確、快速地測量微小部件的能力有助于提高生產(chǎn)率并避免代價(jià)高昂的返工或元件報(bào)廢。
高分辨率 SDD
元素范圍:鋁 - 鈾
樣品艙設(shè)計(jì):開閉式
XY 軸樣品臺選擇:自動臺、晶片樣品臺
最大樣品尺寸:600 x 600 x 20 毫米
濾光片:5
毛細(xì)管聚焦光斑尺寸< 30µm
XRF Controller 軟件
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