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應用案例
CASE
用二合一解決方案進行清潔度分析 | 同時查看顆粒并了解其成分
整個分析工作流程比掃描電子顯微鏡(SEM)等其他方式更加快速，因為： 無需樣本制備； 無需將樣本轉移到其他設備； 過濾樣本始終在大氣條件下在空氣中進行分析。 二合一解決方案可提供待分析顆粒的目視和化學數據，能夠在更短時間內為生產、質量控制和故障分析的進一步行動作出合理決策。
多通道熒光成像的目的是將各種熒光染料發射的光子收集到獨立的檢測通道中。為此，有必要對全發射光譜的組分進行空間分離，即將這些組分定位到不同的方向。傳統上，這種分離是通過“次級二向色鏡”（將激發與發射分離的主要分光器，稱“主分光器”）進行的。除此之外，還可以通過使用棱鏡或光柵來分離光子。根據光子的顏色對光子進行物理分類，這是一種原始的真彩分色方法。如果一次分色不充分，則可以通過數學拆分來補充。
“無限遠光學”這一概念是指在顯微鏡的物鏡和鏡筒透鏡之間具有平行光線的光束路徑。平面光學元件可以進入到這個“無限遠空間”中，而不影響成像，這對于利用DIC或熒光等成像方法至關重要。
